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제품소개
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Probe Head - Hybrid Type

TEPS, Probe Head - Hybrid Type
Pitch 대응 -
Pin 대응 -
Frequency -
Drawing
Item Specifications
기타 2가지 이상의 Needle을 한 제품에 사용하여 부품과 Wafer를 동시에 Contact하는 Probe Card 
[본사] 경기도 화성시 동탄공원로1길 26-43, 1층 [연구센터] 경기도 수원시 장안구 서부로 2066, 성균관대학교 내
T. 031-613-6970 F. 031-613-6938 COPYLIGHT ⓒ 2018 TEPS. ALL RIGHT RESERVED  LOGIN